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IEC 61007
Edition 3.0 2020-07
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Transformers and inductors for use in electronic and telecommunication
equipment – Measuring methods and test procedures
Transformateurs et inductances utilisés dans les équipements électroniques et
de télécommunications – Méthodes de mesure et procédures d'essais
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IEC 61007
Edition 3.0 2020-07
INTERNATIONAL
STANDARD
NORME
INTERNATIONALE
Transformers and inductors for use in electronic and telecommunication
equipment – Measuring methods and test procedures
Transformateurs et inductances utilisés dans les équipements électroniques et
de télécommunications – Méthodes de mesure et procédures d'essais
INTERNATIONAL
ELECTROTECHNICAL
COMMISSION
COMMISSION
ELECTROTECHNIQUE
INTERNATIONALE
ICS 29.100.10; 29.180 ISBN 978-2-8322-8620-3
– 2 – IEC 61007:2020 © IEC 2020
CONTENTS
FOREWORD . 6
1 Scope . 8
2 Normative references . 8
3 Terms and definitions . 9
4 Test procedures . 13
4.1 Test and measurement conditions . 13
4.1.1 General . 13
4.1.2 Measurement uncertainty. 16
4.1.3 Alternative test methods . 16
4.2 Visual inspection . 16
4.2.1 General . 16
4.2.2 Safety screen position . 16
4.2.3 Quality of joints . 16
4.3 Dimensioning and gauging procedure . 19
4.4 Electrical test procedures . 19
4.4.1 Winding resistance . 19
4.4.2 Insulation tests . 20
4.4.3 Losses . 23
4.4.4 Inductance . 27
4.4.5 Unbalance . 27
4.4.6 Capacitance . 32
4.4.7 Transformation ratios. 35
4.4.8 Resonant frequency . 41
4.4.9 Signal transfer characteristics . 42
4.4.10 Cross-talk . 46
4.4.11 Frequency response . 47
4.4.12 Pulse characteristics . 48
4.4.13 Voltage-time product rating . 49
4.4.14 Total harmonic distortion . 50
4.4.15 Voltage regulation . 51
4.4.16 Temperature rise . 52
4.4.17 Surface temperature . 53
4.4.18 Polarity . 54
4.4.19 Screens . 56
4.4.20 Noise . 57
4.4.21 Corona tests . 58
4.4.22 Magnetic fields . 58
4.4.23 Inrush current . 61
4.5 Environmental test procedures . 61
4.5.1 General . 61
4.5.2 Soldering . 61
4.5.3 Robustness of terminations and integral mounting devices . 61
4.5.4 Shock . 61
4.5.5 Bump . 62
4.5.6 Vibration (sinusoidal) . 62
4.5.7 Acceleration, steady state . 62
4.5.8 Rapid change of temperature (thermal shock in air) . 62
4.5.9 Sealing . 62
4.5.10 Climatic sequence . 62
4.5.11 Damp heat, steady state . 62
4.5.12 Dry heat . 63
4.5.13 Mould growth . 63
4.5.14 Salt mist, cyclic (sodium chloride solution) . 63
4.5.15 Sulphur dioxide test for contacts and connections. 63
4.5.16 Fire hazard . 63
4.5.17 Immersion in cleaning solvents . 63
4.6 Endurance test procedures . 63
4.6.1 Short-term endurance (load run) . 63
4.6.2 Long-term endurance (life test) . 64
Annex A (normative) DC resistance test . 65
A.1 General . 65
A.2 Resistance values under 1 Ω – Kelvin double-bridge method . 65
A.3 Resistance values from 1 Ω to many kilo-ohms . 66
A.3.1 General . 66
A.3.2 Ammeter and voltmeter method . 66
A.3.3 Substitution method . 67
A.3.4 Wheatstone bridge . 68
A.3.5 Ohmmeter . 69
A.4 Digital ohmmeter – Resistance values from under 1 Ω to many kilo-ohms . 70
Annex B (normative) Dielectric voltage withstand test . 71
Annex C (normative) Induced voltage test . 73
C.1 Induced voltage test .
...